多功能激光椭圆偏振仪 型号:ZXWJZ-II库号：M351615 查看hh实验内容: ●测量薄膜厚度。●测量介质折射率。●验证马吕斯定律。●观察了解光的偏振现象。 仪器特点:●以分光计为平台，测量薄膜厚度。●利用软件进行数据处理。 设备成套性:●半导体激光器、数字检流计、光电探头、 待测样品、起偏器、检偏器、分光计(选配)等。 主要指标:测量透明薄膜厚度范围0 - 300nm,折射率1.30-2.49。 起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0* -360°， 游标读数0.10。 测量精度: +2nm。 入射角ψ1=70° ，K9玻璃折射率n=1.515。 消光系数: 0,空气折射率1。●半导体激光器波长λ = 635nm。 |
