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四探针电阻率测试仪
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产品型号:
TH02-FT-341
产品名称:
四探针电阻率测试仪
产品报价:
产品特点:
四探针电阻率测试仪 型号:TH02-FT-341

库号:M386778 查看hh

覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
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  TH02-FT-341四探针电阻率测试仪的详细资料:

四探针电阻率测试仪  型号:TH02-FT-341库号:M386778   查看hh覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试 硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,提供中文或英文两种语言操作界面选择.二.描述: 采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计参考国标单晶硅物理测试方法及 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.1.方块电阻 10^-5~2×10^5Ω/□ 2.电阻率 10^-6~2×10^6Ω-cm 3.测试电流 0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100mA 4.电流精度 ±0.1% 5.电阻精度 ≤0.3% 6.显示读数 屏液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式 双电测量8.电源 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W 9.误差 ≤3%(标准样片结果)10.选购功能 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻.11.测试探头 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;镀金磷铜尖针;镀金磷铜半球形针12.标准电阻(选购) 规格:1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ

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