数显式硅酸根分析仪（不带打印） 型号:XN84/GXF-215库号：M233933 性能特点
精度高，稳定性好。
检测元件具有恒温环境保证了仪器高稳定性，并使仪器更快的进入到正常工作状态，减小了机内外温度变化对其稳定性的影响。
仪器在不工作时自动待机，有效的保护了光源，大大延长了光源的使用寿命。
经济耐用，可以在现场长期连续运行。
造型新颖美观，使用操作方便
测量范围 0~199.9μg/LSiO2
基本误差 ≤±2.5%FS
重复性误差 ≤±0.5%FS
短期漂移 ≤±0.5%FS
长期漂移 ≤±2.5%FS 数显式硅酸根分析仪（不带打印） 型号:XN84/GXF-215库号：M233933 性能特点
精度高，稳定性好。
检测元件具有恒温环境保证了仪器高稳定性，并使仪器更快的进入到正常工作状态，减小了机内外温度变化对其稳定性的影响。
仪器在不工作时自动待机，有效的保护了光源，大大延长了光源的使用寿命。
经济耐用，可以在现场长期连续运行。
造型新颖美观，使用操作方便
测量范围 0~199.9μg/LSiO2
基本误差 ≤±2.5%FS
重复性误差 ≤±0.5%FS
短期漂移 ≤±0.5%FS
长期漂移 ≤±2.5%FS 数显式硅酸根分析仪（不带打印） 型号:XN84/GXF-215库号：M233933 性能特点
精度高，稳定性好。
检测元件具有恒温环境保证了仪器高稳定性，并使仪器更快的进入到正常工作状态，减小了机内外温度变化对其稳定性的影响。
仪器在不工作时自动待机，有效的保护了光源，大大延长了光源的使用寿命。
经济耐用，可以在现场长期连续运行。
造型新颖美观，使用操作方便
测量范围 0~199.9μg/LSiO2
基本误差 ≤±2.5%FS
重复性误差 ≤±0.5%FS
短期漂移 ≤±0.5%FS
长期漂移 ≤±2.5%FS 数显式硅酸根分析仪（不带打印） 型号:XN84/GXF-215库号：M233933 性能特点
精度高，稳定性好。
检测元件具有恒温环境保证了仪器高稳定性，并使仪器更快的进入到正常工作状态，减小了机内外温度变化对其稳定性的影响。
仪器在不工作时自动待机，有效的保护了光源，大大延长了光源的使用寿命。
经济耐用，可以在现场长期连续运行。
造型新颖美观，使用操作方便
测量范围 0~199.9μg/LSiO2
基本误差 ≤±2.5%FS
重复性误差 ≤±0.5%FS
短期漂移 ≤±0.5%FS
长期漂移 ≤±2.5%FS |
