方块电阻测试仪 型号:TZ240-ST-21库号：M397541   查看hh方块电阻测试仪是测量半导体薄层电阻(表面电阻)的仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜等同类物质的薄层电阻。该仪器以集成电路为；用基准电源和运算放大器组成稳流源；带回路正常指示电路；并配以LCD显示读数。特点1采用集成电路作为仪器的主要部分；2以LCD显示读数；3采用单个电池供电，带电池欠压指示；4体积≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；5手握式探笔，球形探针、镀金探针接触被测材料及保护薄膜6探头带抗静电模块指标测量范围按方块电阻量值大小分为二个量程档：1.方块电阻 1.00～199.99Ω/□；2.方块电阻 10.0～1999.9Ω/□；分辨率：0.01Ω/□恒流源测量过程：≤±0.8%模数转换器量程：0～199.99mv；分辨率：10μv；方式：LCD显示；过量程均自动显示；小数点同步显示；测量不确定度在整个量程范围内，测量不确定度≤5%四探针探头规格间距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ电源9V叠层电池1节